- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2055 - Analyse des diagrammes de diffraction
Détention brevets de la classe G01N 23/2055
Brevets de cette classe: 172
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 379 |
19 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
6 |
| Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | 2865 |
4 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 145 |
4 |
| Bruker Technologies Ltd. | 100 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
3 |
| California Institute of Technology | 3884 |
3 |
| FEI Company | 851 |
3 |
| Sigray, Inc. | 68 |
3 |
| Malvern PANalytical B.V. | 124 |
3 |
| Bruker AXS, LLC | 8 |
3 |
| KLA Corporation | 1223 |
3 |
| Nova Ltd. | 145 |
3 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 10902 |
2 |
| Sumitomo Chemical Company, Limited | 8808 |
2 |
| Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10525 |
2 |
| Tsinghua University | 5426 |
2 |
| Toray Industries, Inc. | 6652 |
2 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3677 |
2 |
| Apotex Inc. | 197 |
2 |
| Autres propriétaires | 97 |